反射式膜厚量测仪

产品特点： 

   1.  非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。 

   2.**、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消 光系数)。 

   3.宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)。 

   4.薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)。 

   5.对应显微镜下的微距量测口径。